產品中心
當前位置:首頁產品中心光學表面缺陷分析儀
product
光學表面缺陷分析儀
021-64283335
article
電鏡原位偏壓加熱系統的廣泛應用與前沿發展
晶圓探針式輪廓儀作為半導體工業中重要的測試和測量工具
臺式納米壓痕儀,微觀世界的探索者
Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料,又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測,其價格優勢使其成為適合于研發/小批量生產過程中品質管理及良率改善的有力工具。
服務熱線:13501903943