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產品簡介
低溫強磁場共聚焦樣品桿物性表征-低溫光學?低溫強磁場環(huán)境下的共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成像測試
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 其他 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
低溫強磁場共聚焦樣品桿
物性表征-低溫光學
可以用于低溫強磁場環(huán)境下的共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成像測試。
主要特點：
1。適用溫度范圍1.5 K~ 300 K,適用最大磁場18T
2. X/Y/Z三維納米級壓電位移臺（閉環(huán)）
3.行程范圍3 x 3 x 3 mm ·
4.亞納米級掃描范圍30 x 30 x 30 um ·
5.多通道電學測試 ·
6.低溫物鏡NA~0.85, 450 to 1100 nm校正消色差
7.·激發(fā)波長范圍400~ 1000 nm（默認532nm)
8. ·共聚焦拉曼、熒光、MOKE測試選件
9.兼容QD®PPMS, Oxford® TeslatronPT，Cryogenics®及南京鵬力＠等第三方超導磁體系統(tǒng)
本設備可以被客戶用于低溫磁場環(huán)境下對樣品進行測試。可以用于共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成像測試。多種測試選件時的可以根據客戶需求而改變。
低溫強磁場共聚焦樣品桿
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